(sigemb-info 506) 参加募集：ソフトウエア技術者のためのメトリクス基礎(2/12)

[Nobukazu Yoshioka <nobukazu@xxxxxxxxx>]

SIGSMB関係者の皆様，

メーリングリストをお借りしまして下記のソフトウェアメトリクスに関す
るチュートリアルの参加募集をさせていただきます。
本チュートリアルは、先に出版されたばかりの「演習で学ぶソフトウエ
アメトリクスの基礎」の本を使って、具体的に分かりやくソフトウエア
メトリクスとは何かを翻訳をされた野中先生、鷲崎先生ご本人が丁寧に
解説される予定です。
--吉岡(NII)

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 ソフトウエア技術者のためのメトリクス基礎
 http://www.topse.or.jp/events/20100212.html

■日　程：2010年 2月12日(金)　10:00〜17:00（受付開始：9:30）
■会　場（予定）：国立情報学研究所 ２０階　２００１
〒101-8430 東京都千代田区一ツ橋２−１−２
http://www.nii.ac.jp/introduce/access1-j.shtml

■概　要：ソフトウェア開発の定量的管理に不可欠なメトリクスに
ついて、基礎と理論を体系的に説明し、グループ議論や表計算ソフ
トウェアによる演習を通じて使いどころを具体的に解説します。
メトリクスは開発やマネジメントの意思決定に必要な情報を与えま
すが、測定したい概念が実世界で測定可能とは限らず、限界を理解
したうえで活用することが重要です。本チュートリアルでは教科書
に即して、測定の理論に始まり、プロダクトからプロセス、プロジ
ェクトに至るまで、様々な段階で「何を測定するか」を具体的に説
明し、ソフトウェアの「見える化」技法を演習中心に分かりやすく
解説します。プログラマからSE、品質保証担当者、マネージャまで
幅広く対応し、見積もりや測定を基本から学びたい初学者にも最適
です。
1.メトリクスの基礎理論：測定モデル、測定理論、必要性など
2.規模の測定: LOC、機能規模（ファンクションポイント他）など
3.複雑性の測定: サイクロマティック複雑度、情報フロー複雑度など
4.プロジェクト進捗の測定:
  テスト管理図、欠陥バックログ、欠陥発見計画など
5.プロセスの欠陥除去能力: 欠陥密度、欠陥除去率
6.動的モデルによる欠陥予測: レイリーモデル、工数・生産性など
7.システムの可用性や信頼性:
  稼働率、応答時間、様々な分布、経年劣化・若化など
8.まとめ: 調査研究の動向、GQM法など

※教科書：
「演習で学ぶソフトウエアメトリクスの基礎 - ソフトウエアの測
定と見積もりの正しい作法」
（リンダ・Ｍ・ライルド、Ｍ・キャロル・ブレナン著
野中 誠、鷲崎 弘宜訳、日経BP社）


■講　師：野中誠（東洋大学　経営学部　経営学科　准教授）
     鷲崎弘宜（早稲田大学 理工学術院 准教授 ／
                         国立情報学研究所 客員准教授）
■定　員：35名(先着順)

■受講料金：
一般会員　 15,000円 （税込）
一般非会員 25,000円 （税込）
学生会員　  8,000円 （税込）
学生非会員  5,000円 （税込）
※受講料には教科書代金を含みます。
※当日会場にて現金でお支払い下さい。領収書を発行します。
※NPO法人 トップエスイー教育センター、日本ソフトウェア科学会の会員が
 割引の対象となります。

■申込み方法

下記サイトをご覧ください。
http://www.topse.or.jp/events/20100212.html

※定員に達し次第，申し込みを締め切らせていただきます。

■主催：NPO法人 トップエスイー教育センター
■協力：国立情報学研究所 GRACEセンター（予定）
株式会社日立製作所
■協賛：日本ソフトウェア科学会 ソフトウェア工学基礎研究会

■お問い合わせ先
NPO 法人　トップエスイー教育センター　事務局:
E-mail: seminar@xxxxxxxxxxx